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减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf

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xianxiao
发表于 2008-7-5 19:59:52 | 显示全部楼层 |阅读模式

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减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf
测试, 集成电路, 时间

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shengyshan
发表于 2008-7-18 21:01:29 | 显示全部楼层

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assasa
发表于 2008-7-19 11:30:56 | 显示全部楼层
号东东
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flyolong
发表于 2008-8-10 19:16:05 | 显示全部楼层
好东西，谢谢！
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yuan911
发表于 2008-8-12 04:45:09 | 显示全部楼层
謝謝大大的分享~~~~
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Aimmy
发表于 2008-8-20 16:42:44 | 显示全部楼层
ding d
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toobad123
发表于 2008-9-24 23:04:23 | 显示全部楼层
hao a a aa a a a
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wangwei_mh
发表于 2008-9-25 17:01:19 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
希望是比较系统的教程
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guomin1437
发表于 2008-9-26 16:43:53 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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keenboyee
发表于 2008-9-26 16:44:52 | 显示全部楼层
希望是比较系统的教程
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