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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf ...
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楼主: xianxiao

减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf

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liranyeah
发表于 2010-4-4 11:24:57 | 显示全部楼层
謝謝大大的分享~~~~
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方波
发表于 2010-5-28 20:58:40 | 显示全部楼层
真是谢谢了
1# xianxiao
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chhwang0123
发表于 2010-5-31 15:52:55 | 显示全部楼层
good material
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iicing
发表于 2010-6-9 23:50:16 | 显示全部楼层
看看，不知是否有用
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abcd1234abcd
发表于 2010-6-10 13:54:35 | 显示全部楼层
感謝大大無私的分享
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bunengwang
发表于 2010-12-21 21:00:04 | 显示全部楼层
下了，学习，学习！！！
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ypeiyu
发表于 2011-6-1 09:47:04 | 显示全部楼层
为什么打不开呢~
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jidianfeng
发表于 2012-12-23 22:36:39 | 显示全部楼层
好东西，得看看
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shcet
发表于 2014-6-24 14:58:13 | 显示全部楼层
haodongxi 顶起
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