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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ATPG可测试性设计
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查看: 4099|回复: 12

[资料] ATPG可测试性设计

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gangersun
发表于 2011-8-19 11:38:54 | 显示全部楼层 |阅读模式

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ATPG可测试性设计

基于ATPG的可测性设计在RISC_CPU的应用.pdf

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libinggl
发表于 2012-3-19 07:57:51 | 显示全部楼层
多谢分享
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pipilyh
发表于 2012-4-27 17:47:30 | 显示全部楼层
顶一个先
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jimcmwang
发表于 2012-5-4 11:07:52 | 显示全部楼层
好东西 感谢楼主共享！
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messiwang2011
发表于 2013-8-12 14:39:52 | 显示全部楼层
资料不错 学习下
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fbat
发表于 2013-8-12 23:01:46 | 显示全部楼层
感谢楼主共享......
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gxlong
发表于 2014-11-13 22:19:11 | 显示全部楼层
好东东
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yfp303
发表于 2018-9-2 15:04:49 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
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林小明
发表于 2018-9-6 13:39:59 | 显示全部楼层
Thanks for sharing
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ysjlew
发表于 2023-5-31 00:23:41 | 显示全部楼层
试试看
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