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[资料] 可测试性设计(边界扫描、MBIST、scan chain)

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发表于 2014-4-12 14:16:28 | 显示全部楼层 |阅读模式

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这是关于可测试性设计相关的资料,比如边界扫描、MBIST、scan chain。从知网空间下载的几篇代表性的论文,有需要的可以看下。
目录如下:
QQ截图20140412141737.png 可测试设计1.zip (13.81 MB, 下载次数: 1656 )

可测试设计.zip

1.97 MB, 下载次数: 645 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2014-6-2 11:20:39 | 显示全部楼层
感谢分享,正需要
发表于 2014-8-17 18:56:31 | 显示全部楼层
感谢,xia载来看看
发表于 2014-8-19 16:33:31 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2014-8-19 16:35:33 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2014-10-27 21:08:55 | 显示全部楼层
感谢看
发表于 2014-10-27 21:14:42 | 显示全部楼层
谢谢啊
发表于 2014-10-27 22:18:26 | 显示全部楼层
thanks for shaing
发表于 2014-11-11 12:50:25 | 显示全部楼层
回复 1# suifengqu103


   谢啦
发表于 2014-11-21 20:29:12 | 显示全部楼层
回复 1# suifengqu103

Good materials
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