FEOL: Front End of Line
BEOL: Back End of Line,
FEOL主要指WS到CT这一段loop,主要是device等的构建,Salicide形成,BEOL为CT以后的Process,主要是metal连线等
contact 前 FEOL
contact (CT) - metal => MEOL
metal 後 BEOL Metal 那边 半嵌金属 全嵌金属是指metal 间 连线 VIA 吗?
仅向沟槽内填充Cu(铜)的方式也被称为单镶嵌(single damascene)
FROM "ctimes"
先进逻辑晶片的制造可细分成三大部分:前段制程(thefront-end-of-line;FEOL)、中段制程(the middle-of-line;MOL)与后段制程(the back-end-of-line;BEOL)。 前段制程包含处理晶片中的有源元件,也就是位于晶片底部的电晶体。电晶体当作控制电流的开关,透过三个电极运作;闸极(gate)、源极(source)与汲极(drain)。源极与汲极之间的导通通道电流可以切换开关,转换工作则由闸极电压控制。 后段制程,亦即晶片制造的最后阶段,指的是处理晶片最上层的互连导线。互连导线是分布时脉与其他讯号的复杂配线图,提供电源、接地,并传送电晶体之间的电讯号。后段制程在不同金属层中进行布线,包括局部导线(Mx,其中x指的是金属层的排序)、中间导线、半全局导线与全局导线。总层数可高达15层,但通常Mx层数介于3~6层。每层金属层都有(单向的)金属导线以及介电材料—导线透过规律的轨道(track)进行布局。金属层之间以通孔(via)垂直互连,而通孔以金属填充。 前段与后段制程以中段制程相接。中段制程通常由微型金属结构组成,作为电晶体源极、汲极与闸极的接点。这些微型结构连至后段制程的局部导线层。尽管元件尺寸持续微缩,用来连接的接脚数大致上仍维持不变,也就是说要将导线连至接脚变得更具挑战。 随着元件持续微缩至3nm甚至更小,处理上述各段制程模组的诸多挑战随之而来,这也迫使晶片制造商在前段制程中采用全新的元件架构,并在后段与中段制程尝试新兴材料与整合方案。
这些架构将直接影响局部导线层,因此后段制程需要新兴材料,像是钌(Ru)、钼(Mo)与其他金属合金,还需要全新的整合方案,也就是混合金属布线(hybrid metallization)、半镶嵌(semi-damascene)制程,以及「并合通道高度零通孔」(hybrid-height with zero via;H2with zero via)架构。
|