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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的 ...
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楼主: zfeng1121

[资料] 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的

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licongrui
发表于 2022-3-23 17:41:47 | 显示全部楼层
牛啊
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jacke_jacke
发表于 2022-4-29 15:36:32 | 显示全部楼层
谢谢楼主
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dafu02nk
发表于 2022-11-7 14:15:51 | 显示全部楼层
学习学习，大佬大佬，牛掰牛掰
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Bean_Lu
发表于 2022-11-11 09:12:32 | 显示全部楼层
谢谢分享
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pokemon1111
发表于 2023-2-4 09:06:35 | 显示全部楼层
感谢分享
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dmf336
发表于 2023-2-6 15:20:16 | 显示全部楼层

谢谢
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kongjava
发表于 2023-2-16 14:33:37 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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cwy051731
发表于 2023-4-4 10:25:38 | 显示全部楼层
学习一下
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皮蛋不Q
发表于 2023-4-28 16:57:52 | 显示全部楼层
感谢分享
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aptcmk
发表于 2023-8-24 12:00:26 | 显示全部楼层
请问楼主是否有dft and simulation techniques for digital test，万分感谢！
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