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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的 ...
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楼主: zfeng1121

[资料] 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的

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lsf123
发表于 2014-3-5 20:04:10 | 显示全部楼层
下载后，慢慢看
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jimcmwang
发表于 2014-3-17 13:06:50 | 显示全部楼层
感谢分享  赶紧下来一看
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九州少主
发表于 2014-5-8 09:34:45 | 显示全部楼层
学习一下
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huage151
发表于 2015-10-22 09:05:49 | 显示全部楼层
好东西 急需
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chengbaibai
发表于 2015-10-22 22:19:20 | 显示全部楼层
下载下来看看
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shnijump
发表于 2016-1-24 21:52:22 | 显示全部楼层
非常感谢！！
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z523370017
发表于 2016-1-30 10:40:22 | 显示全部楼层
谢谢分享
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modelsim64
发表于 2016-3-9 17:05:02 | 显示全部楼层
感谢！
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chengbaibai
发表于 2016-6-28 14:08:57 | 显示全部楼层
谢谢分享
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chengbaibai
发表于 2016-6-30 16:06:01 | 显示全部楼层
Thanks for share
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