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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的 ...
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楼主: zfeng1121

[资料] 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的

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xiaohao10
发表于 2013-9-13 22:19:09 | 显示全部楼层
haodongxi a
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aaronicson
发表于 2013-9-15 10:27:37 | 显示全部楼层
不错的书啊，谢谢分享
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vvvvvvvvvi
发表于 2013-9-18 12:16:15 | 显示全部楼层
正需要呢，多谢
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JJmeow
发表于 2013-9-19 14:57:03 | 显示全部楼层
感謝樓主分享
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yuxinsky521
发表于 2013-10-1 10:16:17 | 显示全部楼层
想做测试 希望有用
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crafty1120
发表于 2013-11-3 18:50:03 | 显示全部楼层
DFT and Simulation Techniques for Digital Test
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ballet111
发表于 2013-11-8 18:11:01 | 显示全部楼层
好资料值得一下
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etomaster
发表于 2013-11-24 13:59:06 | 显示全部楼层
学习一下。
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dake1025
发表于 2014-3-4 17:00:16 | 显示全部楼层
sdfklaksldjfksdalkfjklasdjfklasjdkj f
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dake1025
发表于 2014-3-4 17:01:28 | 显示全部楼层
sdafjkjaksldjfkljl
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