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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的 ...
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楼主: zfeng1121

[资料] 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的

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wang610431
发表于 2017-4-1 15:57:27 | 显示全部楼层
学学学习
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bbxmasura0
发表于 2017-4-18 23:52:08 | 显示全部楼层
感谢楼主分享
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lxyx
发表于 2017-4-19 20:11:26 | 显示全部楼层
谢谢啦//
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476247426
发表于 2017-6-8 15:03:42 | 显示全部楼层
多谢楼主！
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zycfight
发表于 2017-6-15 16:43:22 | 显示全部楼层
DFTand Simulation Techniques for Digital Test
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fangguihai
发表于 2017-6-27 17:06:38 | 显示全部楼层
回复 1# zfeng1121

全英文的，哈哈哈哈啊哈，慢慢理解吧，九几年的教材
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cdting
发表于 2017-9-30 01:53:09 | 显示全部楼层
非常感謝~~~~
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jeanway
发表于 2018-5-1 23:29:32 | 显示全部楼层
hao shu
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watereva2
发表于 2018-5-13 04:52:11 | 显示全部楼层
good book
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echoeswen
发表于 2018-5-14 23:52:04 | 显示全部楼层
thanks!
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