分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的

sunecho · 发表于 2018-7-13 11:29:39

谢谢楼上的兄弟伙！

xylcool5 · 发表于 2018-7-20 14:07:35

回复 1# zfeng1121

非常感谢

zming1988 · 发表于 2018-7-25 19:46:03

谢谢分享

chenghui871025 · 发表于 2018-7-25 22:24:26

不错不错哦

liuzm0301 · 发表于 2018-9-3 09:27:07

谢谢分享！

zileo0617 · 发表于 2018-9-14 10:39:29

好东西，谢谢楼主

freebirdlee · 发表于 2019-9-24 11:56:24

看了这书才知道90年代美国人就开始研究可测试技术了，所以CAD软件中美有差距是正常的。

sinxsinx · 发表于 2019-12-8 09:33:26

Thanks.

kellysht · 发表于 2020-3-20 13:46:06

谢谢楼主，很有用~

touby · 发表于 2020-3-24 15:29:11

非常感谢

[资料] 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的