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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 资料共享 › 来自MIT 的ADC 测试报告 (testing report)

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查看: 10499|回复: 57

[资料] 来自MIT 的ADC 测试报告 (testing report)

发表于 2010-5-15 16:27:51 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 zhuyun_zizy 于 2010-12-19 03:13 编辑

希望对大家有帮助

report, testing, 测试

Analog-to-Digital Converter Testing MIT.pdf

215.79 KB, 下载次数: 821 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

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发表于 2010-5-15 17:10:38 | 显示全部楼层

看看怎么样，多谢分享哈！

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发表于 2010-5-15 20:02:00 | 显示全部楼层

thanks for sharing

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发表于 2010-5-15 21:09:52 | 显示全部楼层

xiexie,haodongxi,

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发表于 2010-5-16 02:26:28 | 显示全部楼层

thank you.....

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发表于 2010-5-17 13:58:14 | 显示全部楼层

kankan

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发表于 2010-5-22 22:25:23 | 显示全部楼层

感谢共享！！！

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发表于 2010-5-24 16:21:55 | 显示全部楼层

kankan

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发表于 2010-5-24 17:09:57 | 显示全部楼层

sharing thx, thx

.

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发表于 2010-6-5 10:14:04 | 显示全部楼层

thank you.....

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