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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 资料共享 › 来自MIT 的ADC 测试报告 (testing report)
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楼主: zhuyun_zizy

[资料] 来自MIT 的ADC 测试报告 (testing report)

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navyhu
发表于 2010-8-18 13:31:20 | 显示全部楼层
thanks a lot
testing is always important
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jyhking
发表于 2010-10-7 10:15:59 | 显示全部楼层
回复 1# zhuyun_zizy


    gooddddddddddddddddddddddddddddddddd
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lpf025
发表于 2010-12-16 23:25:00 | 显示全部楼层
duoxielouzhu le
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ana192712
发表于 2010-12-16 23:28:07 | 显示全部楼层
回复 1# zhuyun_zizy
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IChina
发表于 2011-3-2 17:00:36 | 显示全部楼层
多谢楼主分享！
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q1w2e3p0o9i8
发表于 2011-3-14 15:41:19 | 显示全部楼层
bucuo!!!!!!!
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xjli_014
发表于 2011-3-30 10:47:25 | 显示全部楼层
非常需要！
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xjli_014
发表于 2011-5-3 16:14:45 | 显示全部楼层
看看人家怎么做的！
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zyjmdd1231
发表于 2011-5-3 17:24:39 | 显示全部楼层
太基础了，怀疑是不是MIT的。。
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晒太阳
发表于 2011-5-9 07:19:27 | 显示全部楼层
谢谢！
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