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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 资料共享 › 来自MIT 的ADC 测试报告 (testing report)
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楼主: zhuyun_zizy

[资料] 来自MIT 的ADC 测试报告 (testing report)

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szuer
发表于 2011-6-15 16:41:58 | 显示全部楼层
膜拜下mit的东西
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bear7679
发表于 2011-6-17 13:28:51 | 显示全部楼层
看看会有什么帮助，期待ing.
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jingxin_xd
发表于 2011-6-17 22:10:59 | 显示全部楼层
多谢分享
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cosunfox
发表于 2011-6-18 05:55:33 | 显示全部楼层
good reference data, it's powerful
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mryzh
发表于 2011-8-24 09:30:47 | 显示全部楼层
回复 1# zhuyun_zizy


    thanks
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fancy17
发表于 2011-8-27 13:04:09 | 显示全部楼层
很好的资料,Thanks
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kmchen3089
发表于 2011-10-2 13:53:37 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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562916967
发表于 2011-10-8 21:30:12 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享，好资料啊
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rainlym
发表于 2011-10-9 13:42:32 | 显示全部楼层
不得不顶的好帖
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xiaoyuzhong
发表于 2011-10-9 22:17:50 | 显示全部楼层
下下来看看，正需要
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