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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 资料共享 › 来自MIT 的ADC 测试报告 (testing report)
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楼主: zhuyun_zizy

[资料] 来自MIT 的ADC 测试报告 (testing report)

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sun_8099
发表于 2011-12-8 16:24:26 | 显示全部楼层
谢谢分享
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microcat
发表于 2011-12-8 17:16:28 | 显示全部楼层
very normal
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rongshuxia999
发表于 2011-12-30 17:16:47 | 显示全部楼层
thank you.....
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blam
发表于 2011-12-30 18:45:37 | 显示全部楼层
free download here.  don't need to spend 信元
http://web.mit.edu/klund/www/papers/UNP_A2Dtest.pdf
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harvey0905
发表于 2011-12-30 19:10:21 | 显示全部楼层
very good, thank you
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nareshreddy
发表于 2011-12-30 19:24:32 | 显示全部楼层
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nareshreddy
发表于 2012-1-22 19:32:57 | 显示全部楼层
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jcchan
发表于 2012-1-23 06:53:14 | 显示全部楼层
頂一下! 感謝無私分享!!!
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roger_cht
发表于 2012-1-23 12:07:20 | 显示全部楼层
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ddchart
发表于 2012-2-12 16:50:17 | 显示全部楼层
多谢分享
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