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发表于 2009-11-27 16:35:08
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我也来蒙下,请高手指点下,
1,首先CMOS是有衬底这个东西的,而BJT是直接做在基岛上,我觉得主要原因是CMOS工艺形成比较大的COX,CGD,CDB等等,高频时这些电容直接会交流短路去,使CMOS小信号模型完全变样, 至于BJT噪声小我觉得是因为BJT能提供更大的gm, 热噪声公式是与gm反比的;
2,我们项目的ESD都是foundry提供的结构,来正高压或者负高压时直接使上下2个原本为导通的二极管击穿,直接放电到电源和地的PAD上面.
3,在目前用的很多都是P-sub 的CMOS工艺,里面提供寄生PNP(vertical),利用
P存底-NWELL-P+主入做的,当燃这个的BETA直一般很小,不会超过30.CMOS里面的带隙基准一般都会用它.在标准5V工艺里面寄生横向NPN见的比较少,也是利用NWLL和P+做的,但没用过.在一些混合信号低压高压集成一起的工艺里有,比如车载芯片用的5V40V工艺,具体性能未测试不知道.
4,如果比较器输出的话LATCH防止抖动,但噪声都使你比较器乱反转的话肯定处理的信号很微弱了,或者噪声特别大,低频领域没这样做的吧,RF领域不懂
5,画图就算了,难为我啊
6,提高vds,增大沟长调制系数lamda,
7, bandgap提供的基准为什么一般都是1.23左右?Si的能带隙电压1.2左右加上一个X倍的Vt=kt/q,刚好做到0温度系数时二者只和就在1.23左右.
8,D/A没做过,不知道啊
9,都是书上的DD,记性不好,忘了很多了. |
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