求助，BGR测试结果分布比较散

thewolftotem · 发表于 2009-11-17 10:34:58

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各位好。
最近新工艺流片的结果BGR分布从1.0到1.4正态分布，spec值是1.2V。
这个电路结构在别的工艺中已经验证多次，分布最差也是1.1到1.3正太分布。
请高手分析一下，如何着手去寻找原因，到底是工艺的问题还是电路设计的问题？
如何改进？
多谢。

steve_guo_1997 · 发表于 2009-11-17 10:54:58

layout有没有变？
测测温度系数？
看看能不能找到os的来源。

thewolftotem · 发表于 2009-11-17 11:03:48

2# steve_guo_1997

谢谢回复。
layout有所改变。测温度系数的原因是什么，能否详细一点？

w98211012 · 发表于 2009-11-17 11:13:06

应该是温漂吧，一般工业的-40~85，多取些点，看看是多少ppm?

steve_guo_1997 · 发表于 2009-11-17 11:20:37

不知道你的结构，
我只是猜测如果有运放的话，看看是不是运放的os造成的。
因为这个的os贡献往往比较大。
不知道你的电路有没有trimming，也不知道你的运放的bias怎么做的。
你可以用trimming试试能不能得到运放大致的os。
比如用trimming将温度曲线的顶点调到某个温度下。看看不同片子顶点的分布。
因为运放的os用trim是弄不掉的。假设你trim的target是得到较好的温度系数。

thewolftotem · 发表于 2009-11-17 11:20:39

都是在25度下测试的。还没进行温度扫描

thewolftotem · 发表于 2009-11-17 11:29:17

电路结构是带自偏置的运放。现在的问题是分布比较散的问题，要是偏高或偏低就容易分析了。
另外电路中没带trimming电路，不明白的是用trimming怎么能够得到os值？

w98211012 · 发表于 2009-11-17 11:30:09

那只能说你片子的离散性不是太好！
楼猪用得是什么工艺？

steve_guo_1997 · 发表于 2009-11-17 11:32:21

本帖最后由 steve_guo_1997 于 2009-11-17 11:38 编辑

如果没有trimming的话，只是测25的分布，那么很多因素都贡献到了你的最终输出去了，电阻失调，电阻绝对值变化，三极管绝对值变化......这样我觉得可能无法分析清楚。
我相信你对bgr的公式一定很了解，看看公式，应该会有很多方向。

ncLM · 发表于 2009-11-17 12:28:18

占个座看看

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