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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Scan原理介绍(Soft Test),english version
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楼主: liuyunwujia

Scan原理介绍(Soft Test),english version

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xhf811
发表于 2011-4-18 15:45:31 | 显示全部楼层
看了看，还是不错的
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stewart1980
发表于 2011-4-19 19:16:17 | 显示全部楼层
我顶你！！！！！！！
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rainbow
发表于 2012-3-9 02:48:39 | 显示全部楼层
多年以后，再顶一下
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jimcmwang
发表于 2012-5-4 16:03:30 | 显示全部楼层
soc asic设计验证和测试方法学
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jimcmwang
发表于 2012-5-13 17:53:42 | 显示全部楼层
Thanks for your information..............
Thanks...................
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znn04006518
发表于 2013-8-2 15:28:21 | 显示全部楼层
多謝樓主，好好學習。
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wwwknown
发表于 2013-8-27 09:31:26 | 显示全部楼层
资料不错，可惜是英文
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jimcmwang
发表于 2014-3-17 16:47:26 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享！
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weifangwei86
发表于 2014-4-11 23:24:30 | 显示全部楼层
谢谢分享
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501xyz501
发表于 2014-4-17 16:59:16 | 显示全部楼层
回复 1# liuyunwujia


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