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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Scan原理介绍(Soft Test),english version
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楼主: liuyunwujia

Scan原理介绍(Soft Test),english version

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sevid
发表于 2010-4-13 04:04:17 | 显示全部楼层
thanks  a  lot !
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knightliu
发表于 2010-4-24 09:59:12 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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orphan
发表于 2010-4-26 11:09:33 | 显示全部楼层
为什么是soft test啊，
正在学习test，ld推荐一点经典啊
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ricky000a
发表于 2010-4-29 22:26:18 | 显示全部楼层
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xudeqiang
发表于 2010-7-2 08:51:51 | 显示全部楼层
有全文吗？
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peter_wx
发表于 2010-7-5 13:39:52 | 显示全部楼层
take a look
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leonwangmeng
发表于 2010-7-8 16:24:32 | 显示全部楼层
顶~~~
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Roamor
发表于 2010-8-11 22:49:45 | 显示全部楼层
我也顶
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taiishan
发表于 2010-8-12 11:41:46 | 显示全部楼层
大力支持好东西
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ayamitek
发表于 2010-10-2 23:27:18 | 显示全部楼层
thanks
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