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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Scan原理介绍(Soft Test),english version
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楼主: liuyunwujia

Scan原理介绍(Soft Test),english version

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niosea
发表于 2009-6-29 11:38:21 | 显示全部楼层
thanks
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sdc19821006
发表于 2009-6-30 09:50:34 | 显示全部楼层

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badguy
发表于 2009-7-9 13:21:02 | 显示全部楼层
好东西，谢谢
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ayamitek
发表于 2009-7-9 15:57:04 | 显示全部楼层

66

Thanks for sharing ........
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crystalzhn
发表于 2009-7-9 17:26:00 | 显示全部楼层
看看。。。。
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crystalzhn
发表于 2009-7-9 17:43:18 | 显示全部楼层
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pedro888
发表于 2009-7-10 01:45:21 | 显示全部楼层
thanks for your information..........................
thanks..........................................................
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lysdownb3
发表于 2009-7-15 15:09:59 | 显示全部楼层
好文章啊
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eeireland
发表于 2009-8-26 04:59:28 | 显示全部楼层
谢谢搂主
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paradisor_pp
发表于 2009-8-26 11:43:25 | 显示全部楼层
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