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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Scan原理介绍(Soft Test),english version
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楼主: liuyunwujia

Scan原理介绍(Soft Test),english version

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zlpan.g
发表于 2009-8-30 19:31:59 | 显示全部楼层
it is good!thanks!
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paradisor_pp
发表于 2009-9-4 14:25:12 | 显示全部楼层
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fento
发表于 2009-10-16 12:45:42 | 显示全部楼层
太感谢了，这是非常好的资料~
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ajian2971
发表于 2010-3-5 15:50:49 | 显示全部楼层
taihao le
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your87
发表于 2010-3-10 20:43:59 | 显示全部楼层
thanks
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your87
发表于 2010-3-21 23:41:57 | 显示全部楼层
thanks
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leonwangmeng
发表于 2010-3-23 14:31:42 | 显示全部楼层
多谢多谢！
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erictmt
发表于 2010-3-23 14:55:38 | 显示全部楼层
Happened to search for this material. Thanks.
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jimcmwang
发表于 2010-3-23 19:23:03 | 显示全部楼层
good article!!
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politefish
发表于 2010-4-9 15:42:35 | 显示全部楼层
支持啊
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