为什么scan跑的频率不能很高呢?

liuyunwujia · 发表于 2009-3-31 15:04:48

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每次都是被建议说就10M吧
好象是规则似的,哪位能给解释一下哈,
比起芯片时钟的速度10M实在是有点慢哦

还有一个问题呢:
scan的触发器链要不要先进行测试呢?不然后面跑ATPG的pattern要是因为scan的硬件问题出现故障咋办呢?
主要是从来没收到过对scan硬件的测试pattern呢!

kxchorus · 发表于 2009-3-31 23:42:35

现在比较好的方法学的scan都是所谓的at-speed，和function同样的速度。

assky · 发表于 2009-4-11 02:00:57

要有一个最简单的pattern去检查san能不能正常工作，只作shift然后检查。

hover99 · 发表于 2011-6-15 13:30:07

回复 2# kxchorus

多时钟域恐怕不好做at-speed测试吧，另外有多周期路径的话如何做at-speed测试？
我们公司做的产品，都使用内建测试去跑性能。

xiaocanmeng · 发表于 2011-7-1 00:14:53

时钟频率越高，测试成本越高。
at-speed目标是transition fault。和多时钟域没有关系。
能介绍一下你们用内建自测试怎么跑性能吗？

bingling512 · 发表于 2011-7-14 15:28:50

不能用高频应该是受芯片IO和ATE机台等限制，所以只能用低频时钟做shift时钟，以及进行stuck-at测试；
可以借用芯片内部的高频时钟（比如pll输出时钟）进行at-speed的transition测试。

一般在测试时首先会对scan链进行测试，然后再进行stuck-at和transition测试。

fu2006 · 发表于 2011-7-15 15:36:04

楼上正解！

ybp1111 · 发表于 2011-7-24 09:40:05

学习了，正想看看这方面呢

kaven_yang · 发表于 2011-7-24 22:09:27

看过，顶一下

david_sung · 发表于 2011-8-19 14:56:29

bingling512 正解，还有的可能是ATE设置时钟比较好设置，不懂xiaocanmeng的测试频率越高成本越高的说法，普通中端的测试机50M基本没问题，测试频率越高明显减少测试时间降低成本啊。。。。

为什么scan跑的频率不能很高呢?

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