为什么scan跑的频率不能很高呢?

cheernixue

测试pattern的第一个scan-capture周期灌入的是0011001100110011.。。。流，用来测试scan-chain有没有问题，然后才开始灌入真正的测试向量

gordonyjh

不能用高频应该是受芯片IO和ATE机台等限制，所以只能用低频时钟做shift时钟，以及进行stuck-at测试；
可以 ...
bingling512 发表于 2011-7-14 15:28

                               
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bsgcgcy

学习中，貌似都是跑在不高的频率上。

cxwl_wuxi

ac-scan可以跑到和functional 一样快。。
但同种模式下，如果不同频率的clock多的话，必然会影响到test coverage...

bingling512

回复 11# cheernixue


    有的工具chain test默认pattern是00110011……，但是一般也可以自定义。

yohuang

主要还是chip IO不支持外部高的时钟，从外面送的时钟频率高了噪声比较大，如果可以送高时钟当然是希望ATE送高时钟，高端的ATE是可以跑得很快的，低端的可能ATE本身就没有高频率。

At-speed test有时候频率也不能和functional frequency一样，因为testing的时候chip power可能比functional mode下大很多，会损坏chip. 所以可能频率会降低，或者对scan pattern有要求。

stuck at fault属于静态fault所以用低频的clock对ATE要求可以比较低，便宜一些。