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楼主: liuyunwujia

使用DFT为什么比传统测试的覆盖率要高?

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发表于 2010-7-27 09:05:31 | 显示全部楼层
看看!
发表于 2010-7-29 17:51:32 | 显示全部楼层
你对覆盖率的概念混淆了。
DFT解决的是故障覆盖率问题,也就是能检测更多的故障。
普通的测试考虑的是功能覆盖率或者是代码覆盖率,也就是芯片能正确工作,没有bug。

DFT找的是生产中产生的bug.这是最主要的一点。

极端一点说,DFT故障覆盖率100%的芯片可能由于设计错误一点功能都不正确。
发表于 2010-12-31 15:32:56 | 显示全部楼层
节约引脚,利用扫描链和D算法可以达到95%以上的覆盖率
发表于 2011-1-20 21:06:05 | 显示全部楼层
生产过程测试,比你功能pattern的目的性强得多
发表于 2011-3-16 19:43:12 | 显示全部楼层
回复 17# birdshanshan

是不是可以这样理解?测试是检测能否正确的实现功能?
验证是检测实现的功能是否正确?
发表于 2011-3-21 16:22:20 | 显示全部楼层
测试生成算法不同
发表于 2011-3-21 16:29:31 | 显示全部楼层
dft设计是牺牲了面积和性能来提高电路的可观测性和可控性,所以提高覆盖率是有代价的。但是这种代价和测试芯片的成本节约来说是值得的。
发表于 2011-4-18 16:14:05 | 显示全部楼层
在set_autofix_configuration -加一句set_dft_signal -view spec -type TestData    -port  PIN_SI
因为修复之前需要将-test_data信号 设置为TestData类型.
发表于 2011-9-30 10:42:38 | 显示全部楼层
还是不懂啊,
发表于 2011-12-19 19:16:34 | 显示全部楼层
学习一下啊!!!!
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