使用DFT为什么比传统测试的覆盖率要高?

bingling512 · 发表于 2011-12-20 09:16:11

回复 1# liuyunwujia

个人觉得这个说法不太准确，应该说是DFT测试效率高。

比如一个有“时，分，秒”的电子表，如果用功能向量测试要一天，但是DFT测试需要的时间应该是ms级，测试效率明显DFT要高，（此时，如果从覆盖率上来说DFT向量不见得比功能向量高）。对于规模再大一点的电路功能测试的时间就更长了，肯定无法接受，而DFT测试的时间基本都在ms量级最多us，对于千万门级以上的芯片把所有DFT测试项加上，测试时间也很少能够达到s级，所以DFT的价值就在于效率更高，能够快速筛出有问题的芯片。

kaka5358 · 发表于 2011-12-24 20:14:30

简单的讲就是通过scan chain，对内部电路有了“可控制性”和“可观测性”。
举个例子，一个教室里面有100个人，有人可能生病了，你要确认,给你2个方法：
1）你是站在门口，只能通过和门口的同学问话，再一个个来回传递确认；
2）直接进去观测；
那个更快捷高效，一目了然。

jsongyan · 发表于 2011-12-27 08:02:14

看看。

gordonyjh · 发表于 2011-12-27 16:41:09

传统的测试應該是指function test ,coverage 要高,有相當的難度,dft 並不是在以function的觀念測的,是以st ...
annlin0301 发表于 2009-12-4 08:19

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同意。在实际工作中，对于一些逻辑规模小，对成本严苛的芯片。也有不加DFT，直接使用function test，进行生产测试的。

windl32 · 发表于 2012-3-27 21:25:12

受教了，谢谢！

syq0917 · 发表于 2012-4-5 13:17:31

thanks~

sunnyzhu · 发表于 2012-5-11 16:27:47

学习了。

licloud · 发表于 2012-5-11 19:00:37

一般function驗證，以一個AND gate來說要同時測到00, 01, 10, 11的pattern 不是那麼容易，但是以ATPG來說很容易輸入這些vector，而達到fault coverage的提升。

liping09003 · 发表于 2013-9-24 16:08:16

一般function驗證，以一個AND gate來說要同時測到00, 01, 10, 11的pattern 不是那麼容易，但是以ATPG來說很 ...
licloud 发表于 2012-5-11 19:00

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赞同~

xjwedh · 发表于 2013-10-4 14:49:27

这个覆盖率说的不太明确！

使用DFT为什么比传统测试的覆盖率要高?

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