使用DFT为什么比传统测试的覆盖率要高?

liuyunwujia · 发表于 2008-7-19 15:29:29

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使用DFT为什么比传统测试的覆盖率要高?
既然覆盖率高了,怎么可能又可以节省时间?
还望高人指点迷津.

kuangjianghua · 发表于 2008-8-9 17:14:09

指的是逻辑覆盖会全面些吧
自己去写逻辑的话可能会有些地方测试不到的

lucky9318 · 发表于 2008-8-29 17:31:30

DFT包括多种方法:比如基于扫描链的ATPG测试, 针对memory的MBIST等.
不太清楚楼主指的传统测试方法是哪些? 所以不太好回答.

esammer · 发表于 2008-10-9 23:44:22

扫描链的引用将测试重点转移到了纯组合逻辑上。也就是说，FF可以被设置到任意所需的状态。

natant · 发表于 2008-10-11 11:54:20

盛大发射点发射点

hzhou · 发表于 2008-10-27 18:19:36

设计规模越大,DFT的作用越明显.ATPG的fault coverage相对要高不少,同时,通过ATPG可以得到效率较高的vector。无论是测试向量生成的时间,或是测试台上的测试时间都会好。

oulin99 · 发表于 2008-11-2 10:29:22

为什么会高呢，真希望能够解释一下。

eestone · 发表于 2008-12-3 22:22:21

我想楼主说的所谓”传统的测试“，大概就是指设计者自己写的功能向量了。这种向量在简单电路的情况下，也许还能覆盖多一些。但是随着电路复杂度越来越高，基本上没有可能通过外部输入来控制里面所有触发器到各种所需的状态。
你说的”DFT"，大概是指全扫描吧。全扫描就是用增加面积的方式（将普通触发器变成扫描触发器），来取得测试状态下所有参与扫描的触发器都可以控制。
理解DFT很简单，可控性和可观性，这两点理解到了就啥都明白了。

希望对大家有帮助。

icsystem · 发表于 2008-12-6 14:15:07

注册机器干啥呢

antilope · 发表于 2009-10-13 15:02:57

thanks

使用DFT为什么比传统测试的覆盖率要高?

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