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为什么scan跑的频率不能很高呢?

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发表于 2009-3-31 15:04:48 | 显示全部楼层 |阅读模式

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每次都是被建议说就10M吧
好象是规则似的,哪位能给解释一下哈,
比起芯片时钟的速度10M实在是有点慢哦

还有一个问题呢:
scan的触发器链要不要先进行测试呢?不然后面跑ATPG的pattern要是因为scan的硬件问题出现故障咋办呢?
主要是从来没收到过对scan硬件的测试pattern呢!
发表于 2009-3-31 23:42:35 | 显示全部楼层
现在比较好的方法学的scan都是所谓的at-speed,和function同样的速度。
发表于 2009-4-11 02:00:57 | 显示全部楼层
要有一个最简单的pattern去检查san能不能正常工作,只作shift然后检查。
发表于 2011-6-15 13:30:07 | 显示全部楼层
回复 2# kxchorus


    多时钟域恐怕不好做at-speed测试吧,另外有多周期路径的话如何做at-speed测试?
   我们公司做的产品,都使用内建测试去跑性能。
发表于 2011-7-1 00:14:53 | 显示全部楼层
时钟频率越高,测试成本越高。
at-speed目标是transition fault。和多时钟域没有关系。
能介绍一下你们用内建自测试怎么跑性能吗?
发表于 2011-7-14 15:28:50 | 显示全部楼层
不能用高频应该是受芯片IO和ATE机台等限制,所以只能用低频时钟做shift时钟,以及进行stuck-at测试;
可以借用芯片内部的高频时钟(比如pll输出时钟)进行at-speed的transition测试。

一般在测试时首先会对scan链进行测试,然后再进行stuck-at和transition测试。
发表于 2011-7-15 15:36:04 | 显示全部楼层
楼上正解!
发表于 2011-7-24 09:40:05 | 显示全部楼层
学习了,正想看看这方面呢
发表于 2011-7-24 22:09:27 | 显示全部楼层
看过,顶一下
发表于 2011-8-19 14:56:29 | 显示全部楼层
bingling512 正解,还有的可能是ATE设置时钟比较好设置,不懂xiaocanmeng的测试频率越高成本越高的说法,普通中端的测试机50M基本没问题,测试频率越高明显减少测试时间降低成本啊。。。。
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