constrain value blockage问题

yyloveyou

41045 faults are untestable due to constrain value blockage.
     sa1   AN   U_pad/U_TESTMODE/REU
     sa0   AN   U_pad/U_TESTMODE/OEN

为什么REU已经 tied 0 ,OEN tied 1，会报constrain value blockage

RayCing

tie0或tie1会导致本身fault  site 不可控（无法施加与tie value相反的值），同时也可能导致与其相关的fault site的response无法被观测到。比如二输入与门，一个输入端tie0，输出总是0，这样不管另一个输入端是0或1，其response总会被block

yyloveyou

RayCing 发表于 2023-1-11 14:53
tie0或tie1会导致本身fault  site 不可控（无法施加与tie value相反的值），同时也可能导致与其相关的fault ...

能否在不改设计的情况下，tmax用什么命令去减少这个FAULT?从而测试覆盖率好看点？

RayCing

add_nofaults 将上述untestable faults排除，coverage会提升

yyloveyou

RayCing 发表于 2023-1-11 17:47
add_nofaults 将上述untestable faults排除，coverage会提升

好的，谢谢

yyloveyou

RayCing 发表于 2023-1-11 17:47
add_nofaults 将上述untestable faults排除，coverage会提升

你好，我想再咨询你下，TEST-T> analyze_faults  U_pad/U_TESTMODE/PS  -stuck  1  ------------------------------------------------------------------------------
  Fault analysis performed for U_pad/U_TESTMODE/PS stuck at 1 (input 1 of TSD gate 4546).
  Current fault classification = AN (atpg_untestable-not_detected).
  ------------------------------------------------------------------------------
  Connection data:  to=REGPO,CLKPO,MASTER,SHADOW,TIEX,TLA,CLOCK,SET,RESET,TS_ENABLE
  Fault site control to 0 was successful (data placed in parallel pattern 0).
  Observe_pt=any test generation was unsuccessful due to atpg_untestable.
  Observe_pt=4546(TSD) test generation was successful (data placed in parallel pattern 1).
  Observe_pt=4548(BUS) test generation was unsuccessful due to atpg_untestable.


比如PS已经被 tied 0了，我现在用analyze_faults  U_pad/U_TESTMODE/PS  -stuck  1, “ Observe_pt=any test generation was unsuccessful due to atpg_untestable”  为什么报这个？“ Observe_pt=4548(BUS) test generation was unsuccessful due to atpg_untestable” 还有为什么会跟4548这个有关系？

RayCing

yyloveyou 发表于 2023-1-12 15:26
你好，我想再咨询你下，TEST-T> analyze_faults  U_pad/U_TESTMODE/PS  -stuck  1  -------------------- ...

（1）Observe_pt=any test generation was unsuccessful due to atpg_untestable，因为此处fault effect无法被observed，所以没有pattern会产生
（2）Observe_pt=4548(BUS) test generation was unsuccessful due to atpg_untestable，PS同4548存在connection，即4548是PS的observe_point，但是其无法观测到PS的fault effect

yyloveyou

RayCing 发表于 2023-1-12 17:53
（1）Observe_pt=any test generation was unsuccessful due to atpg_untestable，因为此处fault effect ...

好的，谢谢

yyloveyou

yyloveyou 发表于 2023-1-12 18:46
好的，谢谢

那为什么4546又可以被observe到呢？？

RayCing

yyloveyou 发表于 2023-1-12 18:50
那为什么4546又可以被observe到呢？？

你打开GSV，看原理图，应该很清楚。PS应该是某个三态门的输入。工具会从PS开始，经过一段组合逻辑到scan cell，一级一级的check 。从PS pin到scan cell，存在很多observe point，第一级就是PS pin所在的gate，即4546，PS的fault effect可以观测到，第二级是4548，观测不到，就停止check了。

补充一点：某个fault site是否可测，首先是可控（Fault site control to 0 was successful ），其次是可观测（fault effect得成功传递到scan cell，然后通过scan chain shift到SO 才算观测到）