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楼主: hmuing

[解决] 【已解决】ATPG run drc时trace 0 cells error 求助

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 楼主| 发表于 2025-3-20 08:11:33 | 显示全部楼层


hamandu 发表于 2022-4-27 10:07
修改netlist能满足实测要求吗?也就是说,芯片实际在ATE测试的时候,应该是通过一组I2C的指令才能进入scan  ...


是的,实际测试还是用第一种方法,第二种只是用来仿真用的,就是跳过前期的打指令,直接将相应的触发器输出端改成有效信号
 楼主| 发表于 2025-3-20 08:13:31 | 显示全部楼层


小鱼儿_zzy 发表于 2025-3-11 14:59
我也遇到同样的问题了,我们是通过SPI进入SCAN MODE。现在DFT跑起来就直接报 no trace
能不能详细指导下 ...


你需要追查一下,看看是不是因为这个scan mode 没有置高,造成的,如果是的话,你可以看看上面说的两种方式
发表于 2025-3-21 17:46:13 | 显示全部楼层
学习了
发表于 2025-5-22 10:20:29 | 显示全部楼层


hamandu 发表于 2022-4-26 17:23
重点是修改spf中的test_setup部分,你要根据I2C的配置波形,转换为stil语言,写到test_setup中,这个过程要 ...


有没有set case analysis之类的语句去force这个scan mode信号,相当于‘跳过’iic配置的过程
发表于 7 天前 | 显示全部楼层
大神们好,我是 通过add_net_connections TIE1设置test mode的方式来进入scan模式的。
这个方式stuck-at模式没问题;
但transition模式有问题,因为一开始就切到scan模式,scan_pll_rst/scan_rst都为高,dff没有先复位,occ出来的时钟有x态,导致无法推下去。请问这种情况怎么处理呢?
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