【已解决】ATPG run drc时trace 0 cells error 求助

hmuing · 发表于 2025-3-20 08:11:33

hamandu 发表于 2022-4-27 10:07
修改netlist能满足实测要求吗？也就是说，芯片实际在ATE测试的时候，应该是通过一组I2C的指令才能进入scan ...

是的，实际测试还是用第一种方法，第二种只是用来仿真用的，就是跳过前期的打指令，直接将相应的触发器输出端改成有效信号

hmuing · 发表于 2025-3-20 08:13:31

小鱼儿_zzy 发表于 2025-3-11 14:59
我也遇到同样的问题了，我们是通过SPI进入SCAN MODE。现在DFT跑起来就直接报 no trace
能不能详细指导下 ...

你需要追查一下，看看是不是因为这个scan mode 没有置高，造成的，如果是的话，你可以看看上面说的两种方式

15909834256 · 发表于 2025-3-21 17:46:13

学习了

lizidadaddadada · 发表于 2025-5-22 10:20:29

hamandu 发表于 2022-4-26 17:23
重点是修改spf中的test_setup部分，你要根据I2C的配置波形，转换为stil语言，写到test_setup中，这个过程要 ...

有没有set case analysis之类的语句去force这个scan mode信号，相当于‘跳过’iic配置的过程

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