【已解决】ATPG run drc时trace 0 cells error 求助

hmuing

hamandu 发表于 2022-4-27 10:07
修改netlist能满足实测要求吗？也就是说，芯片实际在ATE测试的时候，应该是通过一组I2C的指令才能进入scan  ...

是的，实际测试还是用第一种方法，第二种只是用来仿真用的，就是跳过前期的打指令，直接将相应的触发器输出端改成有效信号

hmuing

小鱼儿_zzy 发表于 2025-3-11 14:59
我也遇到同样的问题了，我们是通过SPI进入SCAN MODE。现在DFT跑起来就直接报 no trace
能不能详细指导下 ...

你需要追查一下，看看是不是因为这个scan mode 没有置高，造成的，如果是的话，你可以看看上面说的两种方式

15909834256

学习了

lizidadaddadada

hamandu 发表于 2022-4-26 17:23
重点是修改spf中的test_setup部分，你要根据I2C的配置波形，转换为stil语言，写到test_setup中，这个过程要 ...

有没有set case analysis之类的语句去force这个scan mode信号，相当于‘跳过’iic配置的过程

buaarom

大神们好，我是 通过add_net_connections TIE1设置test mode的方式来进入scan模式的。
这个方式stuck-at模式没问题；
但transition模式有问题，因为一开始就切到scan模式，scan_pll_rst/scan_rst都为高，dff没有先复位，occ出来的时钟有x态，导致无法推下去。请问这种情况怎么处理呢？