【已解决】ATPG run drc时trace 0 cells error 求助

hmuing

Begin scan chain operation checking...
Error: Chain 1 blocked at MUX gate U6274 (538) after tracing 0 cells. (S1-1)

Error: Design rules checking failed: cannot exit DRC command mode. (M100)

在rtl设置中，test_mode 使能pin 由i2c指令设置在内部，控制scan mode，但是在运行atpg时，由于test_mode不是port，无法设置为1，导致scan_out输出无法选通MUX，trace不了cell，有没有大牛指点一下，如何在atpg中设置内部pin signal？

guiqix

首先你要确认下scan测试期间能否通过i2c配置scan mode，如果可以需要在atpg的setup中补充完整来使能scan mode，另外简单的也可以force内部信号。
你的工具是Tessent吧？
add_primary_input top/xx/scan_mode
add_input_constraint top/xx/scan_mode -C1

hmuing

guiqix 发表于 2022-4-26 13:54
首先你要确认下scan测试期间能否通过i2c配置scan mode，如果可以需要在atpg的setup中补充完整来使能scan mo ...

您好，感谢您的回答，首先我是通过i2c指令配置进入test mode, 复用top port控制测试signal，在scan测试期间是通过复用port配置scan mode的，所以现在就是刚开始没办法进入test mode，其次用的工具是TetraMAX，想试图通过add_net_connections TIE1设置test mode, 出现竞争error

guiqix

hmuing 发表于 2022-4-26 14:17
您好，感谢您的回答，首先我是通过i2c指令配置进入test mode, 复用top port控制测试signal，在scan测试期 ...

TAMX就不清楚了，不知道dc的“set_test_assume 1 xx/scan_mode” 能不能用？

hamandu

这个容易，在dft config的时候使能internal_pin就行
set_dft_drc_configuration -internal_pins enable
然后把内部scan_mode相关的那些pin设为相应的数值即可，但是在scan仿真的时候，需要修改spf中的test_setup部分
具体细节还是需要一些努力的，你要自己去探索一下

hamandu

重点是修改spf中的test_setup部分，你要根据I2C的配置波形，转换为stil语言，写到test_setup中，这个过程要对stil有较多了解

hmuing

hamandu 发表于 2022-4-26 17:20
这个容易，在dft config的时候使能internal_pin就行
set_dft_drc_configuration -internal_pins enable
然 ...

哈哈，谢谢您的回答，问题已解决了，在dft scan insert的时候，我是用这个命令做的，所以没有报blocked error, 到了TMAX已经没有相应的类似命令可以设置该signal；所以解决办法一般有两种：一种就是你说的修改spf中test setup，增加激励；另外就是top 例化修改netlist，第二种更方便；

hamandu

修改netlist能满足实测要求吗？也就是说，芯片实际在ATE测试的时候，应该是通过一组I2C的指令才能进入scan mode。你修改netlist的话，那就和这个不符了，不清楚你说的修改网表是怎么修改的哈