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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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duandaodream
发表于 2011-10-23 01:12:16 | 显示全部楼层
ding ,have a look
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whitelie.wen
发表于 2011-11-1 14:17:30 | 显示全部楼层
回复 1# xhui


    谢谢分享！！！
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xysafety
发表于 2011-11-3 22:53:35 | 显示全部楼层
回复 1# xhui


    Thank you very much!
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dada111
发表于 2011-11-16 14:45:07 | 显示全部楼层
回复 1# xhui


    some parts were missing?
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sycall
发表于 2011-12-13 10:32:04 | 显示全部楼层
THANKS!
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jimcmwang
发表于 2011-12-21 07:11:13 | 显示全部楼层
Nice book !!!!!!!!
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zlsx
发表于 2012-3-8 17:48:26 | 显示全部楼层
you mei qian le
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fixit
发表于 2012-3-8 20:34:48 | 显示全部楼层
kankan
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josh11182002
发表于 2012-4-30 19:14:30 | 显示全部楼层
thanks for sharing, studying ..........
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otogyg
发表于 2012-8-7 10:15:27 | 显示全部楼层
非常感谢！
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