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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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mailtoanoopbabu
发表于 2013-4-16 18:04:46 | 显示全部楼层
hgdbgdbg jnfgnga;gn
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lin208
发表于 2013-4-25 16:48:24 | 显示全部楼层
好东西，谢谢！
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name108662
发表于 2013-6-24 11:07:12 | 显示全部楼层
学习。谢谢。
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boi-lee
发表于 2013-12-3 11:25:35 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享 俩文件一样吧。。。
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jimcmwang
发表于 2014-2-21 16:35:33 | 显示全部楼层
好资料
EETOP创芯人才网简历投递入口
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MEmemory
发表于 2014-4-22 22:27:08 | 显示全部楼层
that's what I am looking for
EETOP创芯人才网职位发布入口
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jimcmwang
发表于 2014-7-28 10:43:44 | 显示全部楼层
好东西～～～～
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knock_on_wood
发表于 2014-9-9 20:31:33 | 显示全部楼层
打不开！！！！
EETOP创芯人才网职位发布入口
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jimcmwang
发表于 2014-11-21 11:50:16 | 显示全部楼层
abbr_b608c8c4e683186f4fb9b0d8302c3ad1.rar (2.86 MB)
第一部分
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jimcmwang
发表于 2014-11-21 12:50:47 | 显示全部楼层
abbr_98e981ff99378fad3a5675375579846f.rar (2.26 MB)
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