在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
楼主: robinson

[推荐]Semiconductor Failure Analysis ( OBIRCH )

[复制链接]
发表于 2015-5-13 10:25:55 | 显示全部楼层
cool thanks
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-3-23 12:31:21 | 显示全部楼层
thank you
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2018-12-29 07:43:04 | 显示全部楼层
回复 1# robinson


    谢谢谢谢
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-2-28 17:41:15 | 显示全部楼层
obirch在失效分析中的做哟个还是很大的
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-3-4 15:47:16 | 显示全部楼层
goooooooooooooooooooooooood
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-3-5 09:20:28 | 显示全部楼层
谢谢分享,下载学习
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-4-3 10:15:28 | 显示全部楼层
本文全名叫 Application of OBIC/OBIRCH/OBHIC (Semiconductor Failure Analysis) 共计11页 作者:Shinichi Takasu,Application & Research Center, JEOL Ltd., 谢谢分享
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-8-26 15:49:53 | 显示全部楼层
可以看看,失效分析的一种介绍。
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-8-26 16:11:16 | 显示全部楼层
Good.
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-9-29 11:28:03 | 显示全部楼层
谢谢分享
回复 支持 反对

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-8-15 23:54 , Processed in 0.016325 second(s), 4 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表