[推荐]Semiconductor Failure Analysis ( OBIRCH )

jxd1974 · 发表于 2009-5-24 16:43:28

thanks!!!!!!!!!!!!!!

jxd1974 · 发表于 2009-5-24 17:11:57

thanks!!!!!!!!!!!!!!

hhaahaha1 · 发表于 2009-5-25 17:30:41

谢谢，下来看看

t01408 · 发表于 2009-11-27 15:16:43

thank you!!!

pper1983 · 发表于 2010-1-15 19:13:13

hao a bu cuo

ausir · 发表于 2010-2-9 09:28:28

谢谢！正在找有关 Obirch 方面的资料。
不知道是否有人能够对这个操作过程说的很清楚呢？
1. 被测样品如何连接到测试系统中？
2. 样品的激励条件，如恒压方式还是恒流方式，怎样最合适观察？
3. 遇到什么样的缺陷，会有什么样的反应？最终看到的图像代表什么意义？
4. 激光扫描的空间分辨率有多高？IR-Oribch的波长是1.3um，如何扫描90nm甚至更细微的线条？

biaozhi · 发表于 2010-3-5 15:57:18

[推荐]Semiconductor Failure Analysis ( OBIRCH )
我喜欢

lansky · 发表于 2010-3-5 20:20:23

thanks

ilovemoney22 · 发表于 2010-3-6 23:50:17

感谢楼主的辛勤工作，谢谢

gasvapour · 发表于 2010-3-11 08:54:53

这个要学习学习

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