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本帖最后由 lishiliang 于 2015-1-11 21:22 编辑
根据Sensan的《精粹》上的第15章,MOS的随机失配中阈值电压失配的计算Avt是MOS管的阈值失配的平均值(或 期望),sigma是失配的标准差
Avt=tox*(Nb)^(1/4),反正就是和工艺相关,tox≈L/50,所以工艺尺寸越大的,阈值的失配均值Avt越大,使用更
小线宽的工艺可以减小Avt,但是0.13um以下工艺,Avt基本稳定在 3mV左右。
sigma=Avt/sqrt(W*L),sigma描述的是Avt的波动型,sigma越大说明各个管子阈值偏差离散型较高,也就是匹配不好
问题是,在考虑MOS管的阈值失配时,这个失配说的是Avt还是sigma???,比如说,只考虑一个运放的差分对管的阈值失配,
要使得差分输入对的输入失调电压Vin,offset小于1mV,是不是说的是 sigma<1mV???
在一个0.18um工艺中给出的mismatch特性中,Avt=5.0mV, 要使得sigma<1mV, 就是要使得 W*L>25um^2 ??
如果L=1um,就是说要W>25um???
如果L=0.5um , W要大于 50um??
如果要sigma<0.1mV 那么照此类推,W*L>50^2 um^2 ?? 如果L=1um 那么要W>2500um??
那如果失配只和sigma相关,那么Avt的意义何在??
更小的Avt可以使得更小的W*L就可以满足失调的要求?? |
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