The global corner is used to only express the process global variation which include die to die, wafer to wafer and lot to lot variation.就是说global corner 是指的包含 die2die, wafer2wafer,lot2lot的variation;
除了global corner还有local corner,是指的在同一个die里面的variation,主要是指mismatch,就是在同一个die里紧挨着的两个完全一样的器件其实也不会有完全一样的performance,这就是mismatch。
total variation就是global variation加上local variation,公式如下:[图片]