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[资料] VLSI 中scan-chian theory 和boundary scan的基本阐述

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发表于 2013-5-10 15:08:50 | 显示全部楼层 |阅读模式

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对于VLSI设计中test部分,scan-chian theory 和boundary scan这两个概念非常重要。FPGA是内置了JTAG,但在ASIC全要自己手动加入testability.

boundaryscan_tutorial.pdf (1.1 MB , 下载次数: 158 )

how_does_scan_work.pdf (271.44 KB , 下载次数: 105 )


这两篇资料都是杜克大学的内部文献,其中scan-chain theory讲的很直白,容易懂。 boundary scan部分是ieee的相关会议的研究文献,非常适合做reference。
发表于 2013-5-10 15:44:52 | 显示全部楼层
VLSI 中scan-chian theory 和boundary scan的基本阐述
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发表于 2013-5-11 00:50:44 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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发表于 2015-7-18 00:57:33 | 显示全部楼层
多谢楼主分享
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发表于 2017-5-30 15:36:55 | 显示全部楼层
谢谢亲 超大么么哒
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发表于 2017-5-30 21:20:34 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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