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[求助] 芯片加脉冲群干扰或接触放电后的latch up问题

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发表于 2013-3-4 10:00:31 | 显示全部楼层 |阅读模式

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最近测试了一颗通信芯片,在通信端口加脉冲群干扰,或者打接触放电8000V,芯片的电压会从5V跌落至2V进而保持不变,且芯片逐渐边变热。重新上电后芯片恢复正常工作,再次打干扰和静电又出现同样现象,请问这是不是产生了latch up?有什么办法能找到产生的原因呢?
发表于 2013-3-7 10:36:16 | 显示全部楼层
关注中,也遇到了这种问题,不过我用的SCR结构的ESD,猜测是holding电压太低,如何提高hold电压呢?
发表于 2013-3-12 17:35:44 | 显示全部楼层
应该是Holding电压过低导致的,你可以尝试一下把通信端口处的ESD保护芯片卸下来再焊另一款你知道它的特性参数的ESD防护芯片(即Holding电压高于5V),再重新加脉冲干扰试一试。
发表于 2013-3-12 17:40:49 | 显示全部楼层
回复 2# yylei


    这个只能从SCR的器件结构或者版图上来改进了,而且这方面好像也是高压ESD研究的一个难点吧。我记得EDL上有篇论文,用的一种名为Segmented SCR的版图结构,对保持电压的改进貌似挺明显,你可以试试看。对了,你是做ESD设计的嘛?
发表于 2013-3-12 19:55:56 | 显示全部楼层




   
从测试结果来看,与latch-up的现象很一致;
为了进一步确定,可以对芯片做下latch-up测试,找到有latch-up 风险的引脚。特别是电源结构的latch-up 裕量是否足够。
 楼主| 发表于 2013-4-27 11:03:29 | 显示全部楼层
回复 2# yylei


    holding电压是什么?
 楼主| 发表于 2013-4-27 11:05:26 | 显示全部楼层
回复 3# ruinsnku


    ESD做在里边了,TVS管在外边加的。怎么办?
谢谢!
 楼主| 发表于 2013-4-27 11:06:34 | 显示全部楼层
回复 5# andyjackcao


    什么叫电源结构的latch up呢?
谢谢!
发表于 2013-4-27 21:09:02 | 显示全部楼层


回复  andyjackcao


    什么叫电源结构的latch up呢?
谢谢!
nashmvp 发表于 2013/4/27 11:06



芯片里面有电源到地的ESD结构(电源结构)
 楼主| 发表于 2013-4-28 10:04:58 | 显示全部楼层
回复 9# andyjackcao


    噢,一般会有电源对地的ESD结构吗,感觉之前见过的大多是引脚分别对电源和对地的ESD结构,没有直接放在电源和地之间的ESD?这种ESD会应用在什么地方呢?电源PAD上?
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