芯片加脉冲群干扰或接触放电后的latch up问题

allen_tang · 发表于 2013-4-28 12:12:56

回复 10# nashmvp

对啊，电源pad之间不是直接power对到ground的clamper吗？ESD测试总有可能是power pin对ground pin打的。

nashmvp · 发表于 2013-4-28 17:01:27

回复 11# allen_tang

噢。这样。
这个产品后来发现有时候脉冲群打上去并没有失效，但是用金属物品或者示波器表笔碰一个引脚就会出现问题，那是不是很有可能是这个引脚出现latch up了？

andyjackcao · 发表于 2013-4-28 17:09:09

回复 andyjackcao

噢，一般会有电源对地的ESD结构吗，感觉之前见过的大多是引脚分别对电源和对地 ...
nashmvp 发表于 2013/4/28 10:04

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电源PAD，芯片四周都会用，一般还不少

allen_tang · 发表于 2013-5-2 10:56:17

回复 12# nashmvp

有金属接触就会出问题，这些pin会不会有CDM的问题?

nashmvp · 发表于 2013-5-2 13:12:07

回复 14# allen_tang

CDM是什么问题？

allen_tang · 发表于 2013-5-2 13:49:33

回复 15# nashmvp

charged-device model，电荷从芯片内部经过pin放电。现在找到原因了吗？

nashmvp · 发表于 2013-5-2 17:47:36

回复 16# allen_tang

没有。故意加大脉冲群干扰让几颗芯片彻底失效，然后和可恢复的几颗芯片一起解剖对比，看到彻底失效的芯片内部多处烧伤，而没彻底失效的内部没什么异常现象。

aqwe1024 · 发表于 2013-6-24 17:17:56

謝謝你喔喔喔喔

ljfaqu · 发表于 2013-10-23 17:16:22

发生latch up，切hold电压如此之低

taoly_ic · 发表于 2014-9-28 17:10:21

电源上的ESD保护结构如果用SCR的话，一定要是HIGH-HOLDING-VOLTAGE SCR!

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