在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
123
返回列表 发新帖
楼主: nashmvp

[求助] 芯片加脉冲群干扰或接触放电后的latch up问题

[复制链接]
发表于 2014-9-28 18:30:07 | 显示全部楼层
我设计过的IC,也出现过latchup问题,若外加脉冲信号,则容易产生电流大,重新上电即可变好;比较几个差不多的产品后,我认为主要是ESD的NMOS离内部电路太近导致,因我们产品为了节省成本,以前每个PAD都做双边保护管,就是做一个PMOS和一个NMOS,但现在改面积小,就只做一个NMOS了,所以NMOS就离内部电路近了;同时,ESD的走线一定要和内部的电路的走线分开!这样就可避免,其他的多打孔和做保护环当然好,但做不好上面2样,其他的都是白搭!
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-25 13:45 , Processed in 0.012035 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表