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jiangbing1975 · 发表于 2012-11-7 17:06:26

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本帖最后由 jiangbing1975 于 2012-11-7 17:08 编辑

A new I/O signal latchup phenomenon in voltage tolerant ESD protection circuits

This paper appears in:
Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st Annual. 2003 IEEE International
Date of Conference: 30 March-4 April 2003
Author(s): Salcedo-Suner, J.
Texas Instrum. Inc., Dallas, TX, USA
Cline, R. ; Duvvury, C. ; Cadena-Hernandez, A. ; Ting, L. ; Schichl, J.
Page(s): 85 - 91
Product Type: Conference Publications

谁有这篇paper呀，万分感谢！

469209000 · 发表于 2018-5-14 17:09:15

大神12年就发布了这样的帖子赞赞赞

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