面试归来，一个问题供大家讨论一下

buckaroo · 发表于 2012-9-13 16:23:14

LZ 给面试官讲了一个之前设计的两级米勒补偿运放，第二级负载电容CL会从0到很大。然后面试问主次极点，楼主 ...
michaelhust 发表于 2012-9-12 14:39

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sweep过CL吗？在所有CL下稳定吗？
你这设计反直觉
cap less LDO主极点在内部，你这主极点却一会儿在内部一会儿在外部，这种设计用脚趾头都可以认为不能实现量产。

gy118 · 发表于 2012-9-13 16:40:34

回复 1# michaelhust

你没有明白面试官的问题，面试官的意思是你的设计必然不能实现大的负载变化都保持稳定，这跟用不用根轨迹分析没什么关系。

gaojun927 · 发表于 2012-9-13 17:38:07

回复 19# lgy747

你似乎在推导中不知不觉用了闭环的root locus。

gaojun927 · 发表于 2012-9-13 17:48:01

回复 20# evlvu

我只是说这个在数学上很像根轨迹的方法，但并不是说就是根轨迹图。正统的root locus是说闭环函数是含某个变量的多项式，然后分析该多项式根的变化，而根就是闭环的极点，所以用极点的位置就可以判断稳定性。这里的问题是说某开环函数是含cl的多项式，能否分析该多项式根随cl变化情况，而根实际是开环极点位置。所以lz的问题就复杂了，首先，是否可以避免开环极点相遇？其次，如果相遇系统是否仍然稳定？大家也不能光考虑极点变化而忽略了零点的影响。闭环时闭环零点对稳定性没贡献，可是开环时开环零点对稳定性是有贡献的。

lgy747 · 发表于 2012-9-13 21:49:29

回复 23# gaojun927

说得对，后面部分说到闭环了。我重新编辑一下。

microstudent · 发表于 2012-9-14 01:15:38

回复 1# michaelhust

建议看下这篇文章
R. Reay and G. Kovacs, “An unconditionally stable two-stage CMOS ampliﬁer,” IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 30, no. 5, pp. 591–594, May 1995.

Brock · 发表于 2012-9-14 04:25:41

没看明白问题在哪里。用补偿做的运放负载电容肯定是有个上限的。本来设计就应该标明最大能带的负载电容是多少。

michaelhust · 发表于 2012-9-14 08:19:35

本帖最后由 michaelhust 于 2012-9-14 08:46 编辑

回复 17# fuyibin

米勒补偿实质上不就是feedback a current signal 吗？

michaelhust · 发表于 2012-9-14 08:35:00

回复 18# jamesccp

现在把我这几天想到的列出来，看看大家有什么意见不
1：首先我认为在闭环（LZ认为补偿算一个internal loop）情况下，谈极点在电路具体哪个位置很不专业
2：用root locus 能最直观解释，始终是拉高次级点，拉低主极点，不存在相等的临界点
3：算一遍，LZ的ldo频率响应有点复杂，算起来比较麻烦，就算这个两级miler 补偿opamp
当Cc>C1情况下，
P1=1/(gm2R2R1Cc+R2CL)
P2=gm2/CL+1/R1Cc
当 gm2R2R1Cc dominate时候，可以不专业点讲主极点在第一级输出

当 R2CL dominate时候，可以讲主极点在第二级输出
但是不管怎么样，P1和P2不可能重叠

欢迎讨论，并指正

michaelhust · 发表于 2012-9-14 08:37:21

回复 20# evlvu实际上是输出电阻和输出跨导的变化

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