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查看: 2964|回复: 1

[求助] 有偿求助集成回路可测试性设计DFT的高手编写个小程序

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发表于 2011-12-6 16:36:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
15资产

高价有偿寻求帮助


要去:传统的LOC测试不考hazard-free,它能检测出的故障集F1.如果考hazard-free的就会减少一些测试向量,它能检测出的故障集F2,检测出故障集F3=(F1-F2)里的故障,必得通过观测点插入跟控制点插入来提高。请再我提供的考了Hazard-free的ATPG程序基础上修改,您要做的只是在这个程序中加入一些关于控制点跟观测点代来提高故障覆盖率。比如观测点插入法 参考论文:Improving the Transition Fault Coverage of Functional broadside tests by observation point insertion


觉得可以做的请联系QQ 52341000 邮箱 gemini_happyzk@126.com 具体可以详谈,只要您能做出来,一切好商量~

 楼主| 发表于 2011-12-7 08:45:32 | 显示全部楼层
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