请教LDO成品芯片的环路相位裕度和增益怎么测试出来？

liuxufeishuang · 发表于 2011-7-18 19:38:00

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请教LDO成品芯片的环路相位裕度和增益怎么测试出来？是否需要网络分析仪？
还有系统的环路相位裕度和增益（不同负载下：拉4A电流和拉1A电流）和EA的环路相位裕度和增益相同吗！还是相差不大！？
请教各位前辈！希望不吝赐教！万分感谢！

liuxufeishuang · 发表于 2011-7-20 22:09:20

没有人知道吗？

liberal · 发表于 2011-7-20 23:38:03

驱动电流很亮堂~

vdslafe · 发表于 2011-7-21 14:10:14

测这个干吗，没人成品测这个

tianbian360 · 发表于 2011-7-21 14:37:47

there is no need to test it

actually, you can use the unit step respond for testing, then check it's transient overshoot and under shoot by estimating the PM...

liuxufeishuang · 发表于 2011-8-15 19:27:57

其实主要是制定一个系列的标准！已经OK1

peter_fu · 发表于 2012-8-28 11:24:24

学习了

Jason_ke · 发表于 2012-10-4 11:24:30

等待牛人指教...

ygchen2 · 发表于 2012-10-7 12:04:33

用电流负载阶跃响应恢复曲线，去反推相位裕度。负载电流不同，相位裕度应该不尽相同。

denkyvip · 发表于 2012-10-25 16:09:25

应该不需要网络分析仪

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