在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
12
返回列表 发新帖
楼主: liuxufeishuang

[求助] 请教LDO成品芯片的环路相位裕度和增益怎么测试出来?

[复制链接]
发表于 2012-10-25 17:31:06 | 显示全部楼层
阶越响应并不是很精确,
精确的还是用网络分析仪
发表于 2012-10-25 22:28:04 | 显示全部楼层
看下建立过程不就行了吗。你在设计时应该留出端口测,要不怎么测。
发表于 2012-10-27 18:31:00 | 显示全部楼层
回复 9# ygchen2


   您好,您说的这个反推相位裕度的方法,能说得具体些吗?
发表于 2012-11-11 10:08:44 | 显示全部楼层
一个比较简单的办法,拿实测得到的响应曲线和不同的相位裕度情况模拟曲线比较,找出最接近的曲线响应的相位裕度。
发表于 2012-11-12 00:20:03 | 显示全部楼层
那是你内部的事情,真正的成品没人管你内部怎样,只会看线性调整率,负载调整率,静态电流,dropout电压这些指标。
发表于 2012-11-20 15:18:40 | 显示全部楼层
这个测的时候用不到网络分析仪
发表于 2014-9-2 11:48:33 | 显示全部楼层
看一下
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-15 08:47 , Processed in 0.018385 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表