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楼主: squall418

[资料] Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits

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发表于 2018-5-10 16:24:28 | 显示全部楼层
vely good
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watereva2
发表于 2018-5-13 03:04:52 | 显示全部楼层
Thank you
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ni2121
发表于 2018-9-2 17:38:49 | 显示全部楼层
thanks
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zileo0617
发表于 2018-9-14 10:38:39 | 显示全部楼层
好东西，谢谢楼主
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jimcmwang
发表于 2018-9-25 02:22:11 | 显示全部楼层
2010 Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits.pdf (2.94 MB)
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发表于 2018-9-26 18:54:28 | 显示全部楼层
回复 1# squall418


   thanks for sharing
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sg20067701
发表于 2019-3-10 15:16:53 | 显示全部楼层
不错，谢谢！
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vlsi70642
发表于 2019-3-15 22:29:22 | 显示全部楼层
分享了，帮顶！
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rollstone
发表于 2019-3-27 14:07:44 | 显示全部楼层
great, thanks!
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davide
发表于 2019-3-27 21:17:17 | 显示全部楼层
谢谢共享！
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