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楼主: squall418

[资料] Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits

发表于 2019-4-25 12:17:42 | 显示全部楼层

支持，有用

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发表于 2019-4-25 17:49:43 | 显示全部楼层

Great, 一个项目管理者的扫盲资料~~~

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发表于 2019-5-13 17:54:17 | 显示全部楼层

tks for sharing.

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发表于 2020-6-28 21:15:53 | 显示全部楼层

资料不错

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发表于 2021-1-26 14:01:12 | 显示全部楼层

不错！

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发表于 2021-3-23 13:25:35 | 显示全部楼层

thanks for sharing

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发表于 2021-4-7 20:59:51 | 显示全部楼层

:):):):)

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发表于 2021-4-7 21:25:41 | 显示全部楼层

2010 Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits.pdf
(2.94 MB, 下载次数: 649 )

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发表于 2021-8-17 20:53:39 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2021-8-18 17:36:10 | 显示全部楼层

thanks

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