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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Inte ...
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楼主: squall418

[资料] Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits

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helloday
发表于 2013-8-14 16:05:36 | 显示全部楼层
同事说是好东西
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litaohqqt
发表于 2013-8-23 09:22:36 | 显示全部楼层
burn in 正好要用，多谢分享
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your87
发表于 2013-9-4 22:59:30 | 显示全部楼层
thanks
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dylon
发表于 2013-12-11 14:15:21 | 显示全部楼层
thx for sharing!
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hsdtc
发表于 2014-2-14 14:03:11 | 显示全部楼层
zhichi!!!!!!!!
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jimcmwang
发表于 2014-3-17 13:20:24 | 显示全部楼层
谢谢楼主提供资料
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wrzyred123
发表于 2014-3-25 14:45:54 | 显示全部楼层
dinging
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qq211111
发表于 2014-3-29 22:51:31 | 显示全部楼层
gfdshj
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501xyz501
发表于 2014-4-17 17:04:25 | 显示全部楼层
回复 1# squall418


    多谢分享
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ashishgohil
发表于 2014-4-19 19:06:56 | 显示全部楼层
svgggreg
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