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查看: 17703|回复: 37

[求助] LDO 设计一个很奇怪的问题

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发表于 2011-3-12 14:01:53 | 显示全部楼层 |阅读模式

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设计一个LDO
把我弄的烦死了,
是这样的,
原来逆向了一个别人的LDO芯片,
相位裕量差不多是几度,
但是流片出来,
用1uF的负载电容,能稳定,不振荡,

而在此基础上,改进了补偿,
设计了两个,一个有30度相位裕量,一个十几度的相位裕量,
但是用1uf的负载电容,都不稳,需要10uf的陶瓷电容,
请问这是什么原因,

是PAD的寄生效应吗,
我加了寄生电感,bonding 线的寄生,但是
仿真下来,相位裕量大的,还是大。
但是为什么流片结果就和仿真结果相反呢?
请高手指导!
发表于 2011-3-12 20:37:36 | 显示全部楼层
回复 1# confiope


    你把你的结构贴出来啊
发表于 2011-3-13 03:03:51 | 显示全部楼层
本帖最后由 guang3000 于 2011-3-13 12:37 编辑

我有一点怀疑LDO的稳定性是否改进了

建议对比修改前后的闭环阶跃响应曲线。

若有过冲,比较过冲相对与阶跃量的比值。

搞清楚两条曲线的过冲是由以下的两者中的那一种导致:

1. 左平面的闭环共轭复极点,通过零极点分析得到这个共轭复极点的实部和虚部,并进行比较

2. 几个指数项的衰减造成了过冲,这个过冲不是由减幅振荡导致。如果原来的设计是这种,或者会比修改后的设计稳定性更高
发表于 2011-3-13 11:27:15 | 显示全部楼层
你有把增益欲度考虑进去吗?Bode图只是片面地分析环路的稳定性,如果不做根轨迹无法保证你设计的LDO是稳定的。再者,PDK的model很准吗?设计时留有足够的相位欲度吗?如果PM才几度,老板就让拿去流片,我觉得是严重的质量事故。国内ICer的科研态度值得怀疑,如果客户拿到Loop测试曲线的Datasheet,估计没几家厂商敢买。
发表于 2011-3-13 15:15:00 | 显示全部楼层
cap的esr算进去了吗?以前我做过一个ldo,裕度只有30度,但流片很稳定。我觉得ldo瞬态仿真更重要
发表于 2011-3-13 18:46:03 | 显示全部楼层
add a small resistor (0.1~2 ohm) in serial with your 1 uF capacitor, and see if its stable.
 楼主| 发表于 2011-3-15 08:43:18 | 显示全部楼层




    ------------------------
通常仿真时,负载电容的esr电阻约为0.01欧姆,
如果加到0.1欧姆,那么三种情况下的 相位裕量都能提高
 楼主| 发表于 2011-3-15 08:46:45 | 显示全部楼层


cap的esr算进去了吗?以前我做过一个ldo,裕度只有30度,但流片很稳定。我觉得ldo瞬态仿真更重要
cqmyg5 发表于 2011-3-13 15:15




    ----
考虑过
 楼主| 发表于 2011-3-15 08:49:42 | 显示全部楼层


我有一点怀疑LDO的稳定性是否改进了

建议对比修改前后的闭环阶跃响应曲线。

若有过冲,比较过冲相对与 ...
guang3000 发表于 2011-3-13 03:03



-------------------
阶跃响应时,输出电压没有超过稳定时的值的,
在上升的过程中,有一个小的过冲,幅度很小
 楼主| 发表于 2011-3-15 08:54:39 | 显示全部楼层


你有把增益欲度考虑进去吗?Bode图只是片面地分析环路的稳定性,如果不做根轨迹无法保证你设计的LDO是稳定的 ...
xiaowanzi88 发表于 2011-3-13 11:27




    ----------------
模型是有点不准,但不会相差很大,
现在我怀疑是不是一些寄生的东西,没有考虑进去。
现在考虑的有,
电容ESR ,功率管esr(在P功率管的漏端加),vout PAD 电感等因素。

BTW,现在为了将LDO的PSRR做的高,很多公司的LDO相位裕量都很小,
如果留个45度,60度,稳定性没问题,但是PSRR很低,没有竞争力
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