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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片验证测试及失效分析
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楼主: jyzhang

芯片验证测试及失效分析

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scliscli
发表于 2008-12-24 09:20:19 | 显示全部楼层
very good
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00FA
发表于 2008-12-31 11:09:09 | 显示全部楼层
这么朋友顶这本书，下载突然变慢，郁闷
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00FA
发表于 2008-12-31 11:12:47 | 显示全部楼层
终于下好了，可惜不是书籍，只是三篇文章，而且内容不充分，价值不大
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frankaurora
发表于 2008-12-31 13:20:48 | 显示全部楼层
thanks!!!
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pengsn
发表于 2009-1-6 13:53:19 | 显示全部楼层
先顶在下。
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pengsn
发表于 2009-1-6 13:58:55 | 显示全部楼层
缺少信元，先顶再看
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woniuwoniu
发表于 2009-1-6 23:26:00 | 显示全部楼层
haodongxi!
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kerychen
发表于 2009-7-13 20:52:07 | 显示全部楼层
xia lai kan kan
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茵亚悦
头像被屏蔽
发表于 2009-7-14 11:58:35 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
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庄周
发表于 2009-7-15 16:02:14 | 显示全部楼层
谢谢分享
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