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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片验证测试及失效分析

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楼主: jyzhang

芯片验证测试及失效分析

发表于 2011-4-2 07:25:07 | 显示全部楼层

回复 1# jyzhang

O(∩_∩)O谢谢

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发表于 2011-4-5 13:08:47 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2011-4-7 15:35:27 | 显示全部楼层

感觉很好的东东

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发表于 2011-5-17 13:43:29 | 显示全部楼层

回复 1# jyzhang

看看怎么样

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发表于 2011-7-6 11:09:03 | 显示全部楼层

好资料，正好需要这个

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发表于 2011-7-6 16:23:58 | 显示全部楼层

xieixie

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发表于 2011-7-6 17:24:40 | 显示全部楼层

下来看看

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发表于 2011-7-6 21:58:45 | 显示全部楼层

谢谢楼主共享！！

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发表于 2011-7-6 22:04:20 | 显示全部楼层

kankankankan, 3x

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发表于 2011-7-8 09:41:46 | 显示全部楼层

我i顶起好东西嘛

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