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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片验证测试及失效分析
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楼主: jyzhang

芯片验证测试及失效分析

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lta123
发表于 2011-4-2 07:25:07 | 显示全部楼层
回复 1# jyzhang


    O(∩_∩)O谢谢
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kaka2007f1
发表于 2011-4-5 13:08:47 | 显示全部楼层
thanks
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clslhy
发表于 2011-4-7 15:35:27 | 显示全部楼层
感觉很好的东东
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milidingdong
发表于 2011-5-17 13:43:29 | 显示全部楼层
回复 1# jyzhang


    看看怎么样
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rotings
发表于 2011-7-6 11:09:03 | 显示全部楼层
好资料，正好需要这个
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rotings
发表于 2011-7-6 16:23:58 | 显示全部楼层
xieixie
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kevin20833
发表于 2011-7-6 17:24:40 | 显示全部楼层
下来看看
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dragonfly0403
发表于 2011-7-6 21:58:45 | 显示全部楼层
谢谢 楼主共享！！
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wugh
发表于 2011-7-6 22:04:20 | 显示全部楼层
kankankankan, 3x
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zqb
发表于 2011-7-8 09:41:46 | 显示全部楼层
我i顶起  好东西嘛
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